當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 日本三豐Mitutoyo > 影像測量機 > Hyper QVWLI三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統(tǒng)

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統(tǒng)

簡要描述：三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統(tǒng) Hyper QVWLI
● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統(tǒng)。
● 可根據(jù) WLI 光學系統(tǒng)獲取的 3D 數(shù)據(jù)進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。
還可根據(jù) 3D 數(shù)據(jù)，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

產(chǎn)品型號：Hyper QVWLI
廠商性質(zhì)：代理商
更新時間：2024-11-26
訪問量：2486

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品分類

Product Category

日本三豐Mitutoyo

千分尺測微頭內(nèi)徑測量器卡尺/深度尺指示表/杠桿表測長裝置接觸傳感器非接觸傳感器硬度試驗機光學測量儀影像測量機形狀測量系統(tǒng) 三坐標測量機

查看全部

相關(guān)文章

詳細介紹

品牌	MITUTOYO/日本三豐	價格區(qū)間	10萬-50萬
產(chǎn)地類別	進口	應用領(lǐng)域	能源,電子/電池,汽車及零部件

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統(tǒng) Hyper QVWLI

● Hyper QVWLI 是 QV 配備白光干涉儀的復合型高精度 3D 測量系統(tǒng)。

● 可根據(jù) WLI 光學系統(tǒng)獲取的 3D 數(shù)據(jù)進行三維表面形狀分析 / 三維粗糙度分析。還可根據(jù) 3D 數(shù)據(jù)，進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

三豐Mitutoyo影像儀非接觸 3D 測量系統(tǒng) Hyper QVWLI

規(guī)格

型號項目		Hyper QVWLI 302	Hyper QVWLI 404	Hyper QVWLI 606
測量范圍 ( X × Y × Z )	影像測量	300 × 200 × 190 mm	400 × 400 × 240 mm	600 × 650 × 220 mm
	WLI 測量 * 1	215 × 200 × 190 mm	315 × 400 × 240 mm	515 × 650 × 220 mm
WLI 光學測頭裝置
視場 ( H × V )		5X 鏡頭 : 約 0.64 × 0.48 mm/10X 鏡頭 : 約 0.32 × 0.24 mm/ 25X 鏡頭 : 約 0.13 × 0.10 mm/50X 鏡頭 : 約 0.064 × 0.048 mm
Z 軸重復性		2 σ≤ 0.08 µm
影像光學測頭裝置
觀察裝置		程控電動轉(zhuǎn)塔 1X-2X-6X
圖像傳感器		B&W CCD ( 1/2 吋 )
影像測量精度 * 2	E 1X /E 1Y	( 0.8+2L/1000 ) µm
	E 1Z	( 1.5+2L/1000 ) µm
	E 2XY	( 1.4+3L/1000 ) µm